金属材料领域扫描电子显微镜
扫描电镜（Scanning  Electron Microscope, SEM）在金属材料领域的应用非常广泛，它能够提供高分辨率的三维图像和详细的表面形貌分析。以下是扫描电镜在金属材料领域的一些主要应用：
1. 表面形貌分析：扫描电镜可以观察金属材料的表面形貌，包括微观裂纹、凹坑、氧化层、腐蚀痕迹、加工纹理等。 2. 微观结构观察：通过扫描电镜，可以研究金属的晶粒结构、相组成、析出相和第二相粒子分布等微观结构特征。 3. 缺陷分析：用于检测和鉴定金属材料的裂纹、孔洞、夹杂物、气泡等缺陷，对于质量控制至关重要。 4. 失效分析：在金属材料失效分析中，扫描电镜可以用来观察断口形貌，分析失效的原因，如疲劳、腐蚀、氧化等。 5. 表面处理研究：扫描电镜可以帮助研究金属表面处理工艺的效果，如镀层、氧化、涂覆等。 6. 材料表征：在材料开发过程中，扫描电镜可以用来表征新合金或复合材料的微观结构和性能。 7. 纳米材料研究：随着纳米技术的发展，扫描电镜在纳米金属材料的形貌和结构分析中发挥着重要作用。 8. 微纳加工质量检测：在微电子和光电子领域，扫描电镜可以用来检测微纳加工后的表面质量和形貌。 9. 热处理和相变分析：扫描电镜可以用来观察金属材料在不同热处理条件下的组织变化和相变过程。 10. 材料表征与表征技术结合：扫描电镜常与其他分析技术（如能谱仪、X射线能谱仪、二次电子能谱仪等）结合使用，提供更加全面和深入的材料信息。
通过扫描电镜的高分辨率图像和三维视图，研究人员和工程师可以更好地理解和控制金属材料的性能，从而优化生产工艺和产品设计。
 荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2,集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。
 
Phenom Pharos G2飞纳台式场发射扫描电镜低电压成像优势明显，可减轻电子束对样品的损伤和穿透，更好地观测绝缘和电子束敏感的样品，可以大程度还原样品真实形貌。
 
 
电镜能谱一体化设计
Phenom Pharos飞纳台式场发射扫描电镜采用热场发射电子源，信噪比高，使用寿命长，保证长期稳定的性能。飞纳台式场发射扫描电镜能谱一体机标配背散射电子成像、二次电子电子成像和能谱分析功能，可对各种样品进行高分辨成像及元素分析。

飞纳台式场发射扫描电镜的技术优势· 分辨率优于 1.5 nm
· 低电压下可得到高分辨样品的图像，表面细节丰富
· 彩色光学显微镜全景导航
· 集成全自动马达样品台
· 操作简单，培训 30 分钟即可上手
· 内置真空锁，15 抽真空
· 无需喷金，直接观察不导电样品
· 电子束流大，稳定，能谱分析效率高
· 内置 27 组独立减震单元，完全防震
· 电子光路免维护维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。